|
Mengandungi maklumat pensyarah secara umum
Menu Utama
Carian Mudah
Carian Boolean
Buletin
Bantuan
Mengenai Pustakawan
|
|
|
MARC Tags |
|
[Paparan
Linear|ISBD|MARC
Tags]
|
| |
| No Kawalan : |
00008823 |
| No Perolehan : |
00013595 |
| Lokasi : |
PERPUSTAKAAN UTAMA |
| Jenis Bahan : |
RUJUKAN |
| 020 |
ISBN : |
020 |a0471731726 |
| 090 |
No Panggilan : |
090 |a621.3972|bREL |
| 100 |
Entri Utama (Perseorangan)
: |
100 1 |aStrong, Alvin W. |
| 245 |
Judul dan Kenyataan
Penanggungjawab : |
245 10 |aReliability Wearout Mechanisms in Advanced Cmos Technologies |
| 260 |
Butiran Penerbitan : |
260 |aCanada|bJohn Wiley |c2009 |
| 300 |
Huraian Fizikal : |
300 |axv, 624 p.|c24 cm |
| 700 |
Entri Tambahan (Perseorangan)
: |
700 1 |a1. Wu, Ernest Y.700 1 |a2. Vollertsen, Rolf-Peter |
| |
|
|
| |
|
|
|
