|
Mengandungi maklumat pensyarah secara umum
Menu Utama
Carian Mudah
Carian Boolean
Buletin
Bantuan
Mengenai Pustakawan
|
|
|
MARC Tags |
|
[Paparan
Linear|ISBD|MARC
Tags]
|
| |
| No Kawalan : |
00008750 |
| No Perolehan : |
00013512 |
| Lokasi : |
PERPUSTAKAAN UTAMA |
| Jenis Bahan : |
PINJAMAN |
| 020 |
ISBN : |
020 |a0470511374 |
| 090 |
No Panggilan : |
090 |a621.381|bVOL |
| 100 |
Entri Utama (Perseorangan)
: |
100 1 |aVoldman, Steven h. |
| 245 |
Judul dan Kenyataan
Penanggungjawab : |
245 10 |aESD : failure mechanisms and models |
| 260 |
Butiran Penerbitan : |
260 |aNew Jersey|bjohn wiley |c2009 |
| 300 |
Huraian Fizikal : |
300 |axv,384 p.|c25 cm |
| 650 |
Tajuk Perkara (Topik) : |
|a1.semiconductors-Failures650 0
|a2. Integrated circuits-Protection650 0
|a3. Integrated circuits -testing 650 0
|a4. Integrated ciruits -Reliability 650 0
|a5. Eletric discharges
|
| |
|
|
| |
|
|
|
